Radiations ionisantes : l’ADN est moins réparé après de faibles doses

Les lésions de l’ADN induites par de faibles doses de rayons X persistent plus longtemps que les dommages causés par de fortes doses, selon de nouveaux résultats. Cela pourrait remettre en cause le système d’évaluation du risque qui repose sur l’hypothèse que l’efficacité du système de réparation de l’ADN ne dépend pas de la dose.

Les cassures double brin de l’ADN sont les principales lésions induites par les radiations ionisantes qui soient à l’origine de cancers ou de maladies héréditaires. L’effet de doses élevées est bien documenté notamment par le suivi des survivants aux explosions des bombes atomiques d’Hiroshima et Nagasaki. Toutefois, l’impact des faibles doses est moins connu mais représente un intérêt tout particulier en santé publique.

Afin d’étudier l’effet de faibles doses de rayons X, Kai Rothkamm and Markus Lobric ont exposé des cellules en culture (fibroblastes humains) à des doses de rayons X comparables à celles reçues lors d’un examen dentaire. Leur étude vient de faire l’objet d’une publication dans la revue Proceedings of the National Academy of Sciences of the USA.

L’utilisation d’un nouveau marqueur fluorescent a permis de dénombrer le nombre de cassures double brin après l’exposition. D’une façon inattendue, les lésions induites par de faibles doses restaient détectables plus longtemps après l’irradiation que ne l’étaient celles induites par de fortes doses. Les chercheurs proposent l’existence d’un seuil de dommage en dessous duquel le système de réparation de l’ADN n’est pas optimal.

Source : www.pnas.org/cgi/doi/10.1073/pnas.0830918100